CdIn2S4 yarıiletken filmlerinin X-ışını kırınım desenleri

Abstract

Bu araştırmada, spray pyrolysis yöntemiyle elde edilen CdIn2S4 yarıiletken filmlerinin, oda sıcaklığında x-ışını kırınım desenlerinden, polikristal yapıya sahip oldukları görülmüştür.

In this study, x-ray diffraction patterns of CdIn2S4 compound semiconductor films (at room temperature) produced by the spray pyrolysis method indicate that the films are polycrystalline.