Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorKul, Metin
dc.date.accessioned2019-10-20T09:31:11Z
dc.date.available2019-10-20T09:31:11Z
dc.date.issued2001
dc.identifier.issn1300-8692
dc.identifier.urihttp://www.trdizin.gov.tr/publication/paper/detail/TXpJNE1EUTA=
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/17625
dc.description.abstractBu araştırmada, spray pyrolysis yöntemiyle elde edilen CdIn2S4 yarıiletken filmlerinin, oda sıcaklığında x-ışını kırınım desenlerinden, polikristal yapıya sahip oldukları görülmüştür.en_US
dc.description.abstractIn this study, x-ray diffraction patterns of CdIn2S4 compound semiconductor films (at room temperature) produced by the spray pyrolysis method indicate that the films are polycrystalline.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectOrtak Disiplinleren_US
dc.titleCdIn2S4 yarıiletken filmlerinin X-ışını kırınım desenlerien_US
dc.title.alternativeX-ray difraction patterns of CdIn2S4 semiconductor filmsen_US
dc.typeotheren_US
dc.relation.journalAnadolu Üniversitesi Fen Fakültesi Dergisien_US
dc.contributor.departmentAnadolu Üniversitesi, Fen Fakültesi, Fizik Bölümüen_US
dc.identifier.issue6en_US
dc.identifier.startpage83en_US
dc.identifier.endpage92en_US
dc.relation.publicationcategoryDiğeren_US
dc.contributor.institutionauthorKul, Metin


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster