Structural and optical properties of $Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ films produced by spray pyrolysis method

Abstract

Püskürtme yöntemi ile farklı taban sıcaklıklarında elde edilen $Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ S yarıiletken filmlerinin yapısal ve optiksel özellikleri incelenmiştir. X-ışını kırınım desenlerinden, elde edilen filmlerin polikristal ve hegzagonal $Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ S yapıda oldukları saptanmıştır. Absorpsiyon spektrumu ölçümlerinden filmlerin direkt bant geçişli olduğu ve yasak enerji aralıklarının 2,72eV ile 2,90eV arasında değiştiği belirlenmiştir.

$Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ S semiconductor films have been produced by the spray-pyrolysis method at different substrate temperatures, and their structural and optical properties have been investigated. X-ray diffraction spectra of the films showed that they are hexagonal and formed as $Cd_ {0.22} Zn_{ 0.78}$ S polycrystalline structure. The absorption spectra of the films showed that this compound is a direct band gap material and gap values varied between 2.72eV and 2.90eV.